Nano-CC-UFS

Mitglieder des Kompetenzzentrums (extern)

Porträt 45

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Institution

Raith GmbH
Hauert 18 / Technologiepark
44227 Dortmund

 
 

Ansprechpartner

Dr. Guido Bösker
Tel.: 0231 - 97 50 00 29
Fax: 0231 - 97 50 00 5

für das Kompetenzzentrum relevante Arbeitsgebiete

  • Lithographie, Elektronenstrahllithographie (lithography, e-beam lithography, EBL)
  • Rasterelektronenmikroskopie, REM (scanning electron microscopy, SEM)
  • Fehleranalyse (defect review)
  • Metrologie (metrology)

eigene Nanotechnologie-Angebote: Schichtabscheidung

  • Nanostrukturierung lateral (mit Hilfe EBL) (nanostructure)
  • 3D-Nanostrukturierung (mit Hilfe EBL)

eigene Nanotechnologie-Angebote: Schichtcharakterisierung

  • Rasterelektronenmikroskopie
  • Metrologie

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©  Nano-CC-UFS 2010 Kontakt:
Geschäftsstelle des Nano-CC-UFS
im Fraunhofer IWS Dresden
Dr. Ralf Jäckel
Mail: ralf.jaeckel@iws.fraunhofer.de
Tel. +49 (0) 351 / 83391 - 3444, Fax +49 (0) 351 / 83391 - 3300