Ansprechpartner

Dr. Stefan Dieckhoff
Tel. +49 (0)351 2246 469
Fax +49 (0)351 2246 430

für das Kompetenzzentrum relevante Arbeitsgebiete

• Oberflächen- und Dünnschichtanalytik
• Grenzflächen-Wechselwirkung (Substrat / Schicht / äußeres Medium)
• Vorbereitung Substratoberfläche - Feinreinigung, chem. Funktionalisierung
• Schichterzeugung mit spezifischen Funktionen: hydrophil, hydrophob, Diffusionsbarriere, Trennwirkung, Kratzschutz, Korrosionsschutz
• Untersuchung tribologischer Mechanismen in der Mikrozerspanung

eigene Nanotechnologie-Angebote: Schichtabscheidung

• Niederdruck- und Atmosphärendruck-Plasmaverfahren zum Ätzen, chemisch Funktionalisieren, Beschichten

eigene Nanotechnologie-Angebote: Schichtcharakterisierung

• Photoelektronenspektroskopie (XPS, UPS)
• Infrarotspektroskopie (FTIR, IRERAS)
• Rasterkraft- und Rastertunnelmikroskopie (AFM, STM)
• Rasterelektronenmikroskopie (REM)
• Transmissionselektronenmikroskopie (TEM)
• Time-of-Flight-Sekundärionenmassenspektrometrie (ToF-SIMS)
• Profilometer
• Ellipsometrie
• Molecular Modelling