Nano-CC-UFS

Mitglieder des Kompetenzzentrums (extern)

Porträt 09

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Institution

Bruker AXS GmbH
Östliche Rheinbrückenstraße 49
76187 Karlsruhe

Gebäude der Bruker AXS GmbH

Gebäude der Bruker AXS GmbH
(Foto: Bruker AXS)

 

Ansprechpartner

Dr. Lutz Brügemann
Tel.: 0721 / 595 4307
Fax: 0721 / 595 6693

für das Kompetenzzentrum relevante Arbeitsgebiete

  • Forschung und Entwicklung von Small Angle X-ray Scattering (SAXS) Ausrüstungen (Hardware und Software) zur Untersuchung von Partikeln und Strukturen im Nanometer-Bereich
  • Forschung und Entwicklung von Ausrüstungen (Hardware und Software zur Untersuchung von dünnen Schichten im Nanometer-Bereich
  • Forschung und Entwicklung von gradierten Multilayer-Röntgenoptik-Komponenten

eigene Nanotechnologie-Angebote: Schichtcharakterisierung

  • Small Angle X-ray Scattering (SAXS)
  • Röntgen-Reflektometrie
  • hochauflösende Röntgenbeugung
  • Mikro-Diffraktion

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©  Nano-CC-UFS 2010 Kontakt:
Geschäftsstelle des Nano-CC-UFS
im Fraunhofer IWS Dresden
Dr. Ralf Jäckel
Mail: ralf.jaeckel@iws.fraunhofer.de
Tel. +49 (0) 351 / 83391 - 3444, Fax +49 (0) 351 / 83391 - 3300