Für das CC relevante Arbeitsgebiete:

• Nano-Analytics
• Nano-Structuring of surfaces
• Physics of Highly Charged Ions

Eigene Nanotechnologie-Angebote: Schichtabscheidung:

• NANO-FIB (Focused Ion Beam)

Eigene Nanotechnologie-Angebote: Schichtcharakterisierung:

• TOF-SIMS (Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry)